產品詳情
簡單介紹：
ElProScan掃描電化學顯微鏡
HEKA ElProscan是一臺掃描電化學顯微鏡，用于研究樣品的電化學活性表面。它屬于
掃描探針顯微鏡（AFM, STM, SECM）家族的一員。2005年HEKA公司創(chuàng)立了ElProscan
品牌，它包括傳統(tǒng)的SECM實驗方法及擴展功能。整個系統(tǒng)包括三個主要部分，定位
系統(tǒng)，雙恒電位儀，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
定位系統(tǒng)控制微電極在溶液中電化學活性樣品表面上進行三維掃描，因此ElProscan
可用作傳統(tǒng)的SECM儀器并且具有更多的功能。ElProscan與傳統(tǒng)的SECM不同之處在于
它不僅僅記錄針尖的電流信號，而且在針尖上可實現(xiàn)任何電化學實驗方法的應用
（用可編程脈沖發(fā)生協(xié)議Programmable Pulse Protocol來完成）。在脈沖發(fā)生協(xié)議
運行過程中，在樣品上應用獨立的電
詳情介紹：
HEKA ELPro Scan 電弧學掃描顯微鏡系統(tǒng)**支持眾多材料類型:
? 金屬/ 合金/ 金屬陶瓷
? 光伏半導體和鋰電材料
? 導電聚合物
? 復合型納米結構
? 生物細胞，大分子和納米膜
? 有機電解質/溶液界面/離子液體
? 電化學活性有機物
以及更多的前沿交叉科學材料…
HEKA ELPro Scan電化學掃描顯微鏡系統(tǒng)最全的掃描技術和掃描模式：
? Scanning Electrochemical Microscopy (SECM)
? Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM)
? Scanning Electrochemical Cell Microscopy (SECCM)
? Scanning Microcapillary Contact Method (SMCM)
? Scanning Kelvin Probe (SKP)
? Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET)
? Simultaneous Surface Topography Mapping
? Shear-force Height and Volume Instant Tracking
? Synchronized Fluorescence Imaging
? Scanning Photoelectrochemical Microscopy (SPECM)
? Spatially-resolved Scanning μ-EIS, μ-CV, μ-Tafel
